Specjalność studiów I i II stopnia
Oferta dydaktyczna IAiR

Diagnostyka procesów przemysłowych

fakultatywny ograniczonego wyboru

Cel

Umiejętność analizy diagnostycznej obiektów. Umiejętność projektowania i analizy Prostych układów diagnostycznych dla procesów przemysłowych.

Opis

1. Zagadnienia wstępne
2. Ogólna metodologia diagnostyki procesów
3. Opis matematyczny obiektu diagnozowanego
4. Detekcja uszkodzeń
5. Lokalizacja uszkodzeń
6. Problemy praktyczne
7. Przykłady

Wymagania

Wymagana ogólna znajomość zagadnień wykładanych w przedmiotach: matematyka, fizyka, podstawy automatyki.

Bibliografia

  1. 1. Kościelny J.M. (2001). Diagnostyka zautomatyzowanych procesów przemysłowych. Akademicka Oficyna Wydawnicza Exit, Warszawa.
  2. 2. Korbicz J., Kościelny J.M., Kowalczuk Z., Cholewa W. Diagnostyka procesów. Modele, metody sztucznej inteligencji, zastosowania. WNT, Warszawa 2002.

Metody oceny

Wykład - Egzamin
Laboratorium - Zaliczenie na podstawie ocen z zajęć laboratoryjnych

Szczegółowy rozkład zajęć

Nr Temat Opis Wymiar
1 Zagadnienia wstępne Pojęcia podstawowe, cele diagnostyki procesów, fazy diagnozowania, diagnostyka a niezawodność i bezpieczeństwo systemów, klasyfikacja diagnostyki w układach automatyki: diagnostyka systemu sterującego, diagnostyka inteligentnych urządzeń polowych, diagnostyka procesu, diagnostyka zdalna i lokalna (wbudowana). W 2
2 Ogólna metodologia diagnostyki procesów Podstawowe koncepcje diagnostyki procesów, detekcja, lokalizacja, identyfikacja uszkodzeń, monitorowanie stanu obiektu, prognozowanie uszkodzeń W 2
3 Opis matematyczny obiektu diagnozowane-go Opis matematyczny obiektu z uwzględnieniem wpływu uszkodzeń, uszkodzenia a stany obiektu, modele do detekcji i lokalizacji uszkodzeń, sygnatury uszkodzeń, rozróżnialność uszkodzeń. W 2
4 Detekcja uszkodzeń Charakterystyka podstawowych metod detekcji uszkodzeń: metody klasyczne (kontrola ograniczeń, metody analizy sygnałów), metody heurystyczne, metody bazujące na modelach analitycznych, metody sztucznej inteligencji (zastosowanie modeli rozmytych i neuronowych). W 3
5 Lokalizacja uszkodzeń Podstawowe metody lokalizacji uszkodzeń: proste metody wnioskowania, równoległe i szeregowe wnioskowanie diagnostyczne na podstawie na podstawie binarnej macierzy diagnostycznej i systemu informacyjnego, zastosowanie logiki rozmytej do lokalizacji uszkodzeń W 3
6 Problemy praktyczne Problemy praktyczne diagnostyki procesów przemysłowych i metody ich rozwiązania. W 1
7 Przykłady Przykłady praktyczne: diagnostyka układu trzech zbiorników, zespołu wykonawczego automatyki, ciągu parowego elektrociepłowni W 2
1 Systemy diagnostyczne procesów Analiza diagnostyczna obiektu i konfiguracja systemu diagnostyki AMandD dla wskazanego stanowiska laboratoryjnego. Badanie funkcjonowania systemu. L 10
2 Systemy diagnostyczne intelgentnych urządzeń obiektowych Badanie systemu AMS firmy Fisher - Rosemount. Badanie systemu Asset Manager PKS firmy Honeywell. L 5
Instytut Automatyki i Robotyki
Politechnika Warszawska